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常用无损探伤法的特点和使用范围 |
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探伤方法 |
渗透探伤 |
磁粉探伤 |
超声波探伤 |
射线探伤 |
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探伤原理 |
渗透及吸附作用 |
磁性吸引作用 |
超声波脉冲作用 |
射线穿透感光 |
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探伤部位 |
表面 |
表面及近表面 |
表面及内部 |
表面及内部 |
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使用限制 |
适于开口缺陷 |
适于磁性材料 |
组织粗大者困难 |
限定探伤厚度 |
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缺陷显示形式 |
在缺陷处显示色彩或荧光 |
磁粉在缺陷处堆积 |
示波管屏幕显示波形 |
底片黑皮反差或荧光屏幕显示 |
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灵敏度 |
可发现几μm(开口宽度)的缺陷 |
可发现几mm长的缺陷 |
可发现1mm的缺陷(极限尺寸) |
X射线:1%--2%
γ射线:1%--3% |
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易发现缺陷的形状 |
宽深比较小且内壁较粗糙的缺陷 |
与磁力线垂直的裂纹形缺陷 |
与超声波束方向垂直的扩散缺陷 |
在射线方向厚度较大的缺陷 |
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发现缺陷的能力 |
裂纹 |
优 |
良 |
良 |
可 |
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缩孔 |
劣 |
劣 |
良 |
优 |
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缩松 |
可 |
良 |
良 |
良 |
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气孔 |
可 |
可 |
可 |
优 |
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渣眼 |
可 |
可 |
可 |
优 |
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砂眼 |
可 |
可 |
可 |
优 |
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确定缺陷能力 |
缺陷定性 |
良 |
良 |
可 |
优 |
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缺陷定位 |
优 |
良 |
优 |
可 |
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缺陷定量 |
可 |
可 |
可 |
良 |
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探伤速度 |
较慢 |
快 |
快 |
慢 |
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探伤成本 |
较低 |
低 |
最低 |
高 |
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安全性 |
易燃,低毒 |
安全 |
安全 |
辐射损伤 |
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